米国（US）
US 12,697,779 B2
Apparatus, methods, and systems for calibrating 3D printers
US 12,697,779 B2 は米国特許商標庁（USPTO）の特許公報です（日付 2026-08-04）。出願人：PANTHEON DESIGN LTD.。PDF はこのページからログインなしでダウンロードでき、1日 5 件までです。
- 出願人
- PANTHEON DESIGN LTD.
- 発明者
- Alex Wiecke; Riley Gunn; Zhenwei Cao
- 公開日
- 2026-08-04
- 出願日
- 2023-07-10
- 文献種別
- B2 特許公報
- 別の表記
- US 12,697,779 B2 · US12697779 · 12697779
要約
Aspects of apparatus, methods, and systems for calibrating 3D printers are described. One aspect is an apparatus that may comprise: a nozzle support structure that operatively attaches a nozzle to a 3D printer and comprises a strained region that experiences a surface strain of between approximately 1×10-7 and approximately 1×10-4 responsive to a contact between the nozzle and a print surface; and a semiconductor strain gauge that is attached to the strained region and operable to generate an analog signal and output a digital signal responsive to the surface strain, the semiconductor strain g…
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特許庁のウェブサイト： 米国特許商標庁（USPTO）