美國
US 12,697,198 B2
Orthodontic force measurement system for personalized treatments
US 12,697,198 B2 是美國專利商標局（USPTO）的核准專利，日期 2026-08-04。申請人：The Trustees of Indiana University。PDF 可在本頁下載，未登入每天最多 5 篇。
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- 申請人
- The Trustees of Indiana University
- 發明人
- Jie Chen; Dongcai Wang
- 公開日
- 2026-08-04
- 申請日
- 2022-12-02
- 文件種類
- B2 核准公告
- 也寫作
- US 12,697,198 B2 · US12697198 · 12697198
摘要
An orthodontic force measurement system that enables duplication of the patient's dentition for the application of appliances in a simulated clinical condition. Six components of the load system on individual teeth can be measured. The device can take patient-specific information, such as shapes and locations of the teeth, and duplicate them on the device. Clinicians will be able to apply different appliances to the denture and measure the load system on specific teeth.…
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專利局網站： 美國專利商標局（USPTO）